边缘扫描测试是对大规模集成电路(VLSI)进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术,能极大地降低VLSI测试生成的复杂性,在电路设计与测试领域,近年来得到广泛关注。
来源:互联网摘选Research of Scheduling Using Multiple Voltage at Behavior Level in VLSI Design for Low Power
VLSI行为层的多电压低功耗调度研究
来源:互联网摘选文中将Appel处理多体问题的层次式算法思想实现于直接边界元法,用以计算VLSI三维互连寄生电容。
来源:互联网摘选随着超大规模可编程器件FPGA CPLD和流水线技术的迅速发展,使得高速DSP运算的快速编程实现成为了可能。
来源:互联网摘选The theory of rectilinear embeddings of graphs has been used in the design of VLSI.
摘要纵横嵌入的理论已被用在超大规模集成电路的设计中.
来源:网络文摘精选其中硅基锗量子点器件因其制备工艺与成熟的大规模集成电路工艺的兼容性而更加受到人们的重视.
来源:互联网摘选We presented an optimal algorithm for VLSI L channel routing with crosstalk constraints.
针对L-型通道集成电路布线问题,给出一个带有串扰限制的优化布线算法.
来源:网络文摘精选VLSI design and implementation of loop filter for AVS high-definition video decoder paper.
设计并实现了一种适用于AVS高清解码器的环路滤波器.
来源:互联网摘选
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